عالية الدقة الحرارية مجال الانبعاثات المجهر الإلكتروني

قابلة للتفاوضتحديث03/17

نموذج

طبيعة المصنع: المنتجين

فئة المنتج

مكان المنشأ

استشارة عبر الإنترنت

نظرة عامة

مجهر مسح بالإلكترون ( SEM ) APREO ميزات غنية عالية الأداء تصميم SEMAPREO عدسة مركب يجمع بين الكهرباء الساكنة والمغناطيسية الغمر التقنيات التي يمكن أن تولد عالية الدقة إشارة اختيار

تفاصيل المنتج

مجهر مسح بالإلكترون

Apreo

وظيفية عالية الأداء SEM

Apreo عدسة مركب يجمع بين التصميم الكهربائي والمغناطيسي الغمر التقنيات التي يمكن أن تولد عالية الدقة إشارة الاختيار . هذا يجعل من نيسان / أبريل بمثابة منصة للبحث عن جسيمات متناهية الصغر ، المحفزات ، مساحيق النانو الأجهزة دون الحد من أداء المغناطيسي عينات .

نيسان / أبريل يستفيد من intralens ارتداد مبعثر الكشف الذي يوفر مادة جيدة على النقيض من ذلك ، حتى عندما يميل ، مسافة قصيرة من العمل ، أو عينات حساسة . رواية عدسة مركب يزيد من التباين من خلال تصفية الطاقة ويزيد من تهمة الترشيح المستخدمة في عزل عينة التصوير . اختياري وضع فراغ منخفضة الآن أقصى قدر من الضغط في غرفة العينة هو 500 باسكال ، والتي يمكن استخدامها لتصوير عوازل قاسية . . . . . . .

من خلال هذه المزايا ( بما في ذلك مجمع عدسة النهائي ، متقدمة للكشف عن عينة مرنة تجهيز ) ، نيسان / أبريل يوفر الأداء المتميز و براعة لمساعدتك على التعامل مع التحديات البحثية في المستقبل .

Apreo تطبيقات علم المواد

جديد مجهر مسح بالإلكترون ( SEM ) يمكن الكشف عن الجسيمات النانوية ، والمعادن ، والمواد المركبة ، والطلاء وغيرها من المواد ، ودمج وظائف مبتكرة ، وتوفير أفضل القرار ، على النقيض من ذلك ، وسهولة الاستخدام .

فريدة من نوعها مركب عدسة المرحلة النهائية يمكن أن توفر ممتازة القرار ( 1.0 نانومتر في 1 كيلو فولت الجهد ) على أي عينة ( حتى عندما يميل أو التضاريس القياسات ) دون تباطؤ شعاع الالكترون .
backscattered الكشف - دائما يضمن تباين جيد من المواد ، حتى عندما شعاع الالكترون الاستشعار عينات يتم تصويرها في التلفزيون قيم في الجهد المنخفض شعاع الالكترون الحالية في أي زاوية ميل .
كاشف - يمكن الجمع بين المعلومات المقدمة من كل جزء من كاشف للحصول على أهمية التباين أو قوة الإشارة .

تجربة مزايا آبرو SEM

مركب عدسة النهائيقرار ممتاز ( 1.0 نانومتر في 1 كيلو فولت الجهد ) يمكن أن تقدم على أي عينة ( حتى في حالة الميل أو التضاريس القياسات ) دون تباطؤ شعاع الالكترون .
الكشف عن الخلفية- ضمان التباين المادي الجيد دائما ، حتى عندما يتم تصوير عينات حساسة من شعاع الالكترون في التلفزيون بمعدل منخفض الجهد شعاع الالكترون الحالي ، وفي أي زاوية ميل .
كشف- يمكن الجمع بين المعلومات المقدمة من كل جزء من كاشف للحصول على تباين حيوي أو قوة الإشارة .
تهمة متعددة استراتيجيات التخفيفبما في ذلك وضع فراغ منخفضة مع عينة بن الضغط تصل إلى 500 باسكال ، ويمكن تحقيق أي عينة التصوير .
منصة التحليل :عالية شعاع الالكترون الحالي هو المقدمة ، بقعة ضوء صغيرة . عينة بن يدعم ثلاثة eds-detectors ، في مستوى واحد eds-ebsd وانخفاض نظام فراغ
معالجة العينات والملاحة هي بسيطة جدا, يتلقّى [ مولتي - غرد ] عينة سقالة وناف [ كام ] + .

منتج مماثل يوصي